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Richert research group

R枚ntgen-Photoelektronen-Spektrometer (Teil der Core Facility EMMA)

Phi 5800 ESCA System (47.0.211)

搁枚苍迟驳别苍辩耻别濒濒别苍

  • Monochromatische Al-K伪 Strahlug f眉r hohe laterale (1 mm) und chemische Aufl枚sung
  • Al/Mg-K伪 Laborquelle f眉r einfache Messungen

Proben-Neutralisierung

  • BaOx-Kathode zur Kompensation von Aufladungseffekten auf halbleitenden und elektrisch isolierenden Proben

Tiefenprofil-Analyse

  • Ar+-Ionenquelle ('Sputter Gun') zur Erstellung von Tiefenprofilen der Proben (< 1 碌m)

Proben-Spezifikationen

  • Feste Proben
    • Massive Festk枚rper: Untersuchung wie erhalten
    • Pulverproben: Pr盲paration auf einem leitgf盲higen Kohlenstoff-Pad
  • Ausgegast und trocken (Messung unter UHV-Bedingungen)

笔谤辞产别苍-骋谤枚脽别&苍产蝉辫;

  • 10 x 10 mm虏 ausreichend (Analysierte Fl盲che 0.8 x 2 mm虏)
  • Maximale Gr枚脽e 50 x 50 mm虏 lateral, 10 mm H枚he

Proben-Halter

Proben